学术预告

高通量表型技术在玉米中的应用报告

发布日期:2014-11-14 发表者:辛西 浏览次数:

2014年11月13日下午4点,档案馆四楼会议室迎来了太阳集团成系列学术报告第十一讲。本次报告由太阳集团成教师石礼娟主讲,石礼娟在UIUC(伊利诺伊大学厄巴纳-香槟分校)做完访问学者刚回国不久,主要研究方向是农业生物工程,这次报告的内容以她在国外做的课题为主,国外生活为辅展开。

本次报告的题为《High-ThroughputPhenotyping Technology on Maize》,即在玉米中的高通量表型技术。石礼娟从三个问题出发:什么是表型?为什么我们需要测高通量表型?对于玉米的高通量表型我们已经做了哪些工作?首先解释了表型的定义,由于数量的增长和能源的短缺,我们需要更深入、细致的研究,其中包括了根系的水分分布、复杂性、长度、角度等问题的研究。通过三个不同的玉米品种实验数据和图表的比较,石礼娟给员工阐述了表型检测技术和结果的分析。其复杂性由多个基因共同决定,学院近期目标之一是开发建立一套玉米根系形态的图像数据库;目标之二是建立一个玉米根系的分类系统。石礼娟还以玉米粒数为例做了具体分析,每间隔22.5°拍一张照片,这样每个玉米会被拍到16张图片,再通过图片的拼接技术组成一张完整的玉米粒数的图片。

报告结束之后,石礼娟还应其他教师的要求,讲述了她在UIUC的学习与生活。通过众多照片的展示,石礼娟谈到了国内外学术氛围上以及生活上的差异和自己的心得体验。在国外做访问学者的经历不仅使她学到了更多的知识也更加坚定了从事科研的决心。众教师与石礼娟交流,提出的问题也都一一得到了详细的解答。最后,在场的师生用热烈的掌声感谢石礼娟带来的报告。